| MEB |
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Observation
d'échantillons conducteurs ou non conducteurs (sans
métallisation préalable) avec une bonne profondeur de champ
et des grossissements importants (~30x à ~100'000x).
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n |
Examen de surface afin de qualifier la propreté
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n |
Examen de faciès de rupture |
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n |
Examen de microstructure (métal dur, céramique,...) |
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La microanalyse EDX qui est en lien avec le MEB permet de déterminer les éléments constituant les échantillons observés sur des surface de l'ordre du micron carré. |
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n |
Détermination de la nature de contaminations de surface
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n |
Détermination de la nature d'inclusions en surface ou à
cœur de la matière |
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n |
Détermination de la composition chimique qualitative ou quantitative de matériaux
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n |
Examen sur coupe métallographique de manière à déterminer la nature de
revêtements |
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